有機汚染物質/アウトガスの発生メカニズムとトラブル対策事例集

• 資料種別: 図書
• ISBN: 978-4-86104-196-9
• タイトル: 有機汚染物質/アウトガスの発生メカニズムとトラブル対策事例集
• タイトルよみ: ユウキ オセン ブッシツ アウトガス ノ ハッセイ メカニズム ト トラブル タイサク ジレイシュウ
• 著者・編者: 青木良憲 企画編集
• 著者標目: 青木, 良憲 アオキ, ヨシノリ ( 01116427 )典拠
• 出版事項: 東京 : 技術情報協会
• 出版年月日等: 2008.1
• 出版年（W3CDTF）: 2008
• 数量: 335p
• 大きさ: 27cm
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: 電子部品 デンシブヒン ( 00561429 )典拠; 揮発性有機化合物 キハツセイ ユウキカゴウブツ ( 01003167 )典拠; クリーンルーム クリーンルーム ( 01062001 )典拠
• NDC9版: 549 : 電子工学
• NDLC: ND354
• NDC（参考図書紹介）: 549
• 対象利用者: 一般
• 書誌注記: 文献あり
• 入手条件・定価: 84000円 (税込)
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: ND354-J6
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000009244474; http://id.ndl.go.jp/bib/000009244474
• 全国書誌番号: 21371027
• 目録規則: 日本目録規則1987年版改訂版
• 整理区分コード: 111

目次

目次

第1章 有機物汚染発生メカニズム

第1節 分子状汚染物質とは（種類と物性）/ 3

はじめに/ 3

1. 電子機器の信頼性確保・向上に向けた対策/ 3