Terrestrial neutron-induced soft errors in advanced memory devices / Takashi Nakamura ... [et al.].

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9789812778819; 9812778810
• タイトル: Terrestrial neutron-induced soft errors in advanced memory devices / Takashi Nakamura ... [et al.].
• 著者標目: 中村, 尚司, 1939- ナカムラ, タカシ, 1939- ( 00170733 )典拠
• 出版事項: Singapore : World Scientific
• 出版年月日等: c2008.
• 出版年（W3CDTF）: 2008
• 数量: xxii, 343 p. : ill. (some col.) ; 24 cm.
• 出版地（国名コード）: SG
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: Semiconductor storage devices.; Neutron irradiation.; Radiation dosimetry.; Nuclear physics.
• LCC: TK7895.M4
• NDLC: ND371
• 書誌注記: Includes bibliographical references (p. 291-315) and index.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: ND371-B32
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000009371475; http://id.ndl.go.jp/bib/000009371475
• OCLC番号: 185032763; https://www.worldcat.org/oclc/185032763
• 目録規則: 英米目録規則
• 整理区分コード: 211

• 内容細目: IntroductionTerrestrial neutron spectrometry and dosimetryIrradiation testing in the terrestrial field...