本文に飛ぶ
図書

帯磁率異方性が示す粒子配列の決定要因 : X線CT法と薄片の自動画像解析法による検証

図書を表すアイコン

帯磁率異方性が示す粒子配列の決定要因 : X線CT法と薄片の自動画像解析法による検証

国立国会図書館請求記号
Y151-H18540457
国立国会図書館書誌ID
000009521594
資料種別
図書
著者
横川美和, 大阪工業大学 [著]
出版者
[横川美和]
出版年
2006-2007
資料形態
ページ数・大きさ等
1冊
NDC
-
すべて見る

資料に関する注記

一般注記:

文部科学省科学研究費補助金研究成果報告書

書店で探す

書誌情報

この資料の詳細や典拠(同じ主題の資料を指すキーワード、著者名)等を確認できます。

資料種別
図書
タイトルよみ
タイジリツ イホウセイ ガ シメス リュウシ ハイレツ ノ ケッテイ ヨウイン : Xセン CTホウ ト ハクヘン ノ ジドウ ガゾウ カイセキホウ ニ ヨル ケンショウ
著者・編者
横川美和, 大阪工業大学 [著]
著者標目
横川, 美和 ヨコカワ, ミワ
大阪工業大学 オオサカ コウギョウ ダイガク
出版事項
出版年月日等
2006-2007
2008.5
出版年(W3CDTF)
2006
2007
数量
1冊
その他のタイトル
研究種目 基盤研究(C)