14th IEEE international on-line testing symposium : proceedings : Rhodes, Greece : July 6-9, 2008.

国立国会図書館請求記号: M17-08-2073
国立国会図書館書誌ID: 000009697334

資料種別: 図書

著者: University of Athens.ほか

出版者: IEEE Computer Society

出版年: c2008.

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: xvii, 305 p. : ill. ; 28 cm.

NDC: -

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資料に関する注記

一般注記：: Papers." (...) and included in the annual and expanding Test Technology Educational Program (TTEP) ." -- p. xvi.IEEE cat no P3264, CFP08OLT-PRT.

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書誌情報

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紙

資料種別: 図書
ISBN: 9780769532646
タイトル: 14th IEEE international on-line testing symposium : proceedings : Rhodes, Greece : July 6-9, 2008.
著者標目: University of Athens.
IEEE International On-Line Testing Symposium (14th : 2008 : Rhodes, Greece)
出版事項: Los Alamitos : IEEE Computer Society
出版年月日等: c2008.
出版年（W3CDTF）: 2008
数量: xvii, 305 p. : ill. ; 28 cm.
並列タイトル等: 2008 14th IEEE international on-line testing symposium
その他のタイトル: IOLTS 2008 : tutorial on soft errors : IEEE Computer Society Test Technology Technical Council (TTTC) test technology educational program (TTEP) : Jul 2008, Rhodes, Greece.
出版地（国名コード）: US
本文の言語コード: eng
件名標目: Electronic circuits -- Testing -- Data processing -- Congresses.
Error-correcting codes (Information theory) -- Congresses.
NDLC: M17
一般注記: Papers.
" (...) and included in the annual and expanding Test Technology Educational Program (TTEP) ." -- p. xvi.
IEEE cat no P3264, CFP08OLT-PRT.
書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-08-2073
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000009697334
http://id.ndl.go.jp/bib/000009697334
OCLC番号: 257667173
https://www.worldcat.org/oclc/257667173
整理区分コード: 215