26th IEEE VLSI test symposium : proceedings : San Diego, California : 27 April-1 May 2008.

国立国会図書館請求記号: M17-09-592
国立国会図書館書誌ID: 000009774054

資料種別: 図書

著者: IEEE VLSI Test Symposium (26th : 2008 : San Diego, Calif.)

出版者: IEEE Computer Society

出版年: c2008.

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: xxx, 413 p. : ill. ; 28 cm.

NDC: -

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資料に関する注記

一般注記：: Papers and abstracts."Welcome to VTS 2008, the twenty-sixth in a series of annual symposia (...) " -- foreword."Full-day tutorials and workshops are a...

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書誌情報

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紙

資料種別: 図書
ISBN: 9780769531236
ISSN: 1093-0167
タイトル: 26th IEEE VLSI test symposium : proceedings : San Diego, California : 27 April-1 May 2008.
著者標目: IEEE VLSI Test Symposium (26th : 2008 : San Diego, Calif.)
出版事項: Los Alamitos : IEEE Computer Society
出版年月日等: c2008.
出版年（W3CDTF）: 2008
数量: xxx, 413 p. : ill. ; 28 cm.
並列タイトル等: 26th IEEE VLSI test symposium : (VTS 2008) : San Diego, California : 27 April-1 May 2008
その他のタイトル: test technology education program (TTEP) : TTTC test technology educational program (TTEP) 2008 : Apr 2008, San Diego, CA.
出版地（国名コード）: US
本文の言語コード: eng
件名標目: Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing -- Congresses.
NDLC: M17
一般注記: Papers and abstracts.
"Welcome to VTS 2008, the twenty-sixth in a series of annual symposia (...) " -- foreword.
"Full-day tutorials and workshops are also held in conjunction with VTS 2008." -- foreword.
IEEE cat no P3123 (t.p. verso) , CFP08029-PRT.
書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-09-592
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000009774054
http://id.ndl.go.jp/bib/000009774054
OCLC番号: 235178323
https://www.worldcat.org/oclc/235178323
整理区分コード: 215