Interferometry 14: techniques and analysis : 11-13 August 2008 : San Diego, California, USA. : conference on interferometric techniques and analysis : SPIE optics and photonics meeting : Aug 2008, San Diego, CA. (SPIE Proceedings ; 7063)

Interferometry 14: techniques and analysis : 11-13 August 2008 : San Diego, California, USA. : conference on interferometric techniques and analysis : SPIE optics and photonics meeting : Aug 2008, San Diego, CA.

(SPIE Proceedings ; 7063)

国立国会図書館請求記号: M17-09-190
国立国会図書館書誌ID: 000009799298

資料種別: 図書

著者: Creath, Katherine.ほか

出版者: SPIE

出版年: c2008.

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: 1 v. (various pagings) : ill. (some col.) ; 28 cm.

NDC: -

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一般注記：: An abstract and papers."Interferometry XIV, (...) consists of two complementary conferences, one dedicated to Techniques and Analysis and the other to...

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資料種別: 図書
ISBN: 9780819472830
ISSN（シリーズ）: 0277-786X
タイトル: Interferometry 14: techniques and analysis : 11-13 August 2008 : San Diego, California, USA. : conference on interferometric techniques and analysis : SPIE optics and photonics meeting : Aug 2008, San Diego, CA.
シリーズタイトル: SPIE Proceedings ; 7063
タイトル標目: Proceedings of SPIE -- the International Society for Optical Engineering ; v. 7063.
著者標目: Creath, Katherine.
Schmit, Joanna.
Towers, Catherine E.
出版事項: Bellingham : SPIE
出版年月日等: c2008.
出版年（W3CDTF）: 2008
数量: 1 v. (various pagings) : ill. (some col.) ; 28 cm.
出版地（国名コード）: US
本文の言語コード: eng
件名標目: Interferometry -- Methodology -- Congresses.
Measurement -- Congresses.
Metrology -- Congresses.
LCC: QC410.9
NDLC: M17
一般注記: An abstract and papers.
"Interferometry XIV, (...) consists of two complementary conferences, one dedicated to Techniques and Analysis and the other to Applications." -- introd.
書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-09-190
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000009799298
http://id.ndl.go.jp/bib/000009799298
OCLC番号: 268966094
https://www.worldcat.org/oclc/268966094
整理区分コード: 215