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書誌情報
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- 資料種別
- 図書
- ISBN
- 97814244180089781424418015
- 著者標目
- 出版年月日等
- c2008.
- 出版年(W3CDTF)
- 2008
- 数量
- xi, 242 p. : ill. ; 28 cm.
- 並列タイトル等
- ICMTS : IEEE international conference on microelectronic test structures2008 IEEE international conference on microelectronic test structures : Edinburgh, United Kingdom : 24-27 March 2008
- 出版地(国名コード)
- US