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ISプロセス材料腐食試験装置の配管リークの原因調査 (JAEA-technology ; 2008-74)

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ISプロセス材料腐食試験装置の配管リークの原因調査

(JAEA-technology ; 2008-74)

国立国会図書館請求記号
Y251-J610
国立国会図書館書誌ID
000009995465
資料種別
図書
著者
田中伸幸, 諏訪博一, 古川智弘, 稲垣嘉之 [著]
出版者
日本原子力研究開発機構
出版年
2008.12
資料形態
ページ数・大きさ等
4, 20p ; 30cm
NDC
-
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資料種別
図書
タイトルよみ
IS プロセス ザイリョウ フショク シケン ソウチ ノ ハイカン リーク ノ ゲンイン チョウサ
著者・編者
田中伸幸, 諏訪博一, 古川智弘, 稲垣嘉之 [著]
シリーズタイトル
出版年月日等
2008.12
出版年(W3CDTF)
2008
数量
4, 20p
大きさ
30cm