Optical fabrication, testing, and metrology 3 : 2-4 September 2008 : Glasgow, United Kingdom. : Sep 2008, Glasgow, UK. (SPIE Proceedings ; 7102)

Optical fabrication, testing, and metrology 3 : 2-4 September 2008 : Glasgow, United Kingdom. : Sep 2008, Glasgow, UK.

(SPIE Proceedings ; 7102)

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資料種別: 図書
ISBN: 9780819473325
ISSN（シリーズ）: 0277-786X
タイトル: Optical fabrication, testing, and metrology 3 : 2-4 September 2008 : Glasgow, United Kingdom. : Sep 2008, Glasgow, UK.
シリーズタイトル: SPIE Proceedings ; 7102
タイトル標目: Proceedings of SPIE -- the International Society for Optical Engineering ; v. 7102.
著者標目: Europaische Forschungsgesellschaft Dunne Schichten.
Duparre, Angela.
Geyl, Roland.
出版事項: Bellingham : SPIE
出版年月日等: c2008.
出版年（W3CDTF）: 2008
数量: 1 v. (various pagings) : ill. ; 28 cm.
出版地（国名コード）: US
本文の言語コード: eng
件名標目: Optical instruments -- Design and construction -- Congresses.
Optical instruments -- Testing -- Congresses.
Optical materials -- Congresses.
Metrology -- Congresses.
LCC: QC371 S67 v. 7102
NDLC: M17
一般注記: Presentations and papers.
書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-09-473
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000009999300
http://id.ndl.go.jp/bib/000009999300
OCLC番号: 310623054
https://www.worldcat.org/oclc/310623054
整理区分コード: 215