The 23rd IEEE international symposium on defect and fault-tolerance in VLSI systems : proceedings : Boston, Massachusetts : 1-3 October 2008. : Oct 2008, Boston, MA.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9780769533650
• ISSN: 1550-5774
• タイトル: The 23rd IEEE international symposium on defect and fault-tolerance in VLSI systems : proceedings : Boston, Massachusetts : 1-3 October 2008. : Oct 2008, Boston, MA.
• 著者標目: Bolchini, Cristiana.; IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (2008 : Boston, Mass.)
• 出版事項: Los Alamitos : IEEE Computer Society
• 出版年月日等: c2008.
• 出版年（W3CDTF）: 2008
• 数量: xiii, 546 p. : ill. ; 28 cm.
• 並列タイトル等: The 23rd IEEE international symposium on defect and fault tolerance in VLSI systems : (DFT 2008) : Boston, Massachusetts : 1-3 October 2008
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: Integrated circuits -- Very large scale integration -- Design and construction -- Congresses.; Fault-tolerant computing -- Congresses.
• NDLC: M17
• 一般注記: Abstracts and papers.; IEEE cat no P3365 (t.p. verso) , CFP08078-PRT.
• 書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-09-1715
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000010115945; http://id.ndl.go.jp/bib/000010115945
• OCLC番号: 302339984; https://www.worldcat.org/oclc/302339984
• 整理区分コード: 215