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書誌情報
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- 資料種別
- 図書
- ISBN
- 9780769533650
- ISSN
- 1550-5774
- 著者標目
- 出版年月日等
- c2008.
- 出版年(W3CDTF)
- 2008
- 数量
- xiii, 546 p. : ill. ; 28 cm.
- 並列タイトル等
- The 23rd IEEE international symposium on defect and fault tolerance in VLSI systems : (DFT 2008) : Boston, Massachusetts : 1-3 October 2008