X線イメージングによる電子機器の非破壊検査に関する研究

• 資料種別: 博士論文
• タイトル: X線イメージングによる電子機器の非破壊検査に関する研究
• タイトルよみ: Xセン イメージング ニ ヨル デンシ キキ ノ ヒハカイ ケンサ ニ カンスル ケンキュウ
• 著者・編者: 寺本篤司 [著]
• 著者標目: 著者 ： 寺本, 篤司 テラモト, アツシ ( 001291340 )典拠
• 出版事項: [寺本篤司]
• 出版年月日等: [2008]
• 出版年（W3CDTF）: 2008
• 数量: 1冊
• 並列タイトル等: Studies on non-destructive inspection for electrical products by means of X-ray imaging
• 授与機関名: 岐阜大学
• 授与年月日: 平成20年3月25日
• 授与年月日（W3CDTF）: 2008
• 報告番号: 乙第60号
• 学位: 博士 (工学)
• 学位論文注記: 博士論文
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• NDLC: UT51
• 一般注記: 博士論文
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: UT51-2009-D723
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000010332998; http://id.ndl.go.jp/bib/000010332998
• 整理区分コード: 213