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A study on device characterization of polycrystalline-silicon thin-film transistors

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A study on device characterization of polycrystalline-silicon thin-film transistors

国立国会図書館請求記号
ND371-B47
国立国会図書館書誌ID
000010859587
資料種別
図書
著者
author Hiroyuki Ikeda
出版者
Ichiryusha
出版年
2010.5
資料形態
ページ数・大きさ等
187p ; 26cm
NDC
-
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書誌情報

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資料種別
図書
ISBN
978-4-901887-92-2
著者・編者
author Hiroyuki Ikeda
著者標目
池田, 裕幸 イケダ, ヒロユキ ( 01198753 )典拠
出版事項
出版年月日等
2010.5
出版年(W3CDTF)
2010
数量
187p
大きさ
26cm