International conference on advanced phase measurement methods in optics and imaging : Monte Verita, Ascona, Switzerland 16-21 May 2010. : May 2010, Ascona, Switzerland. (AIP Conference Proceedings ; 1236)
資料に関する注記
一般注記:
この資料の詳細や典拠(同じ主題の資料を指すキーワード、著者名)等を確認できます。