図書

LSIの信頼性 (信頼性技術叢書)

図書を表すアイコン
表紙は所蔵館によって異なることがあります ヘルプページへのリンク

LSIの信頼性

(信頼性技術叢書)

国立国会図書館請求記号
ND386-J111
国立国会図書館書誌ID
000011018960
資料種別
図書
著者
二川清 編著ほか
出版者
日科技連出版社
出版年
2010.10
資料形態
ページ数・大きさ等
183p ; 21cm
NDC
549.7
すべて見る

書店で探す

全国の図書館の所蔵

国立国会図書館以外の全国の図書館の所蔵状況を表示します。

所蔵のある図書館から取寄せることが可能かなど、資料の利用方法は、ご自身が利用されるお近くの図書館へご相談ください

関東

  • CiNii Research

    検索サービス
    連携先のサイトで、CiNii Researchが連携している機関・データベースの所蔵状況を確認できます。

書店で探す

出版書誌データベース Books から購入できる書店を探す

『Books』は各出版社から提供された情報による出版業界のデータベースです。 現在入手可能な紙の本と電子書籍を検索することができます。

書誌情報

この資料の詳細や典拠(同じ主題の資料を指すキーワード、著者名)等を確認できます。

資料種別
図書
ISBN
978-4-8171-9363-6
タイトル
タイトルよみ
LSI ノ シンライセイ
著者・編者
二川清 編著
塩野登, 横川慎二, 福田保裕, 三井泰裕 著
シリーズタイトル
シリーズ著者・編者
信頼性技術叢書編集委員会 監修
著者標目
二川, 清, 1949- ニカワ, キヨシ, 1949- ( 00253818 )典拠
塩野, 登 シオノ, ノボル ( 01212843 )典拠
横川, 慎二 ヨコガワ, シンジ ( 01181492 )典拠
福田, 保裕 フクダ, ヤスヒロ ( 01212848 )典拠
出版年月日等
2010.10