2008 17th Asian test symposium : (ATS) : Hokkaido, Japan : 24-27 November 2008. : TTTC-sponsored technical meetings : Nov 2008, Sapporo, Japan.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9781424440030
• ISSN: 1081-7735
• タイトル: 2008 17th Asian test symposium : (ATS) : Hokkaido, Japan : 24-27 November 2008. : TTTC-sponsored technical meetings : Nov 2008, Sapporo, Japan.
• 著者標目: Asian Test Symposium (17th : 2008 : Sapporo, Japan)
• 出版事項: Piscataway : IEEE
• 出版年月日等: c2008.
• 出版年（W3CDTF）: 2008
• 数量: 392 p. : ill. ; 27 cm.
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: Electronic digital computers -- Circuits -- Testing -- Congresses.; Electronic circuits -- Testing -- Congresses.; Fault-tolerant computing -- Congresses.
• NDLC: M17
• 一般注記: Papers and abstracts.; "Since 1992, ATS has been held every year (...) " -- foreword.; " (...) the ATS program includes (...) two half-day tutorials." -- foreword.; IEEE cat no CFP08067-PRT.
• 書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-11-2712
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000011216202; http://id.ndl.go.jp/bib/000011216202
• OCLC番号: 440620643; https://www.worldcat.org/oclc/440620643
• 整理区分コード: 215