表面分析

• 資料種別: 図書
• ISBN: 978-4-320-04391-6
• タイトル: 表面分析
• タイトルよみ: ヒョウメン ブンセキ
• 著者・編者: 石田英之 [ほか]著
• シリーズタイトル: 分析化学実技シリーズ ; 応用分析編・1
• 著者標目: 石田, 英之 イシダ, ヒデユキ ( 01237761 )典拠; 日本分析化学会 ニホン ブンセキ カガッカイ ( 00259509 )典拠
• 出版事項: 東京 : 共立出版
• 出版年月日等: 2011.8
• 出版年（W3CDTF）: 2011
• 数量: 182p
• 大きさ: 21cm
• 並列タイトル等: Surface Analysis
• その他のタイトル: Surface Analysis Surface Analysis
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: 表面 (工学) ヒョウメン (コウガク) ( 00563858 )典拠; 分光学 ブンコウガク ( 00561016 )典拠; 質量分析 シツリョウブンセキ ( 00571301 )典拠
• NDC9版: 428.4 : 物性物理学
• NDLC: MC141
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: 並列シリーズ名: Experts Series for Analytical Chemistry シリーズの編者: 日本分析化学会
• 書誌注記: 索引あり
• 入手条件・定価: 2900円
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: MC141-J62
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000011258611; http://id.ndl.go.jp/bib/000011258611
• 全国書誌番号: 21974919
• NS-MARC番号: 124058900
• 目録規則: 日本目録規則1987年版改訂版
• 整理区分コード: 112

• 要約等: 本書は，長年表面分析の第一線でさまざまな試料について分析を行ってきた経験豊富な専門の研究者が執筆した実用的な表面分析の解説書である。 表面分析の手法には多くの分析手法があるが，紙面の関係で実用的な視点から，赤外・ラマン分光法，光電子分光法(XPS)，二次イオン質量分析法(SIMS)，飛行時間型質量分...

目次

Chapter1　表面分析序論

Chapter2　赤外・ラマン分光法

Chapter3　Ｘ線光電子分光法(XPS, ESCA)

Chapter4　二次イオン質量分析法(SIMS)

Chapter5　飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS：Static SIMS)