2010 international conference on wavelet analysis and pattern recognition : (ICWAPR 2010) : Qingdao, China : 11-14 July 2010 : ICWAPR2010 : Jul 2010, Qingdao, China.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9781424465309
• タイトル: 2010 international conference on wavelet analysis and pattern recognition : (ICWAPR 2010) : Qingdao, China : 11-14 July 2010 : ICWAPR2010 : Jul 2010, Qingdao, China.
• 著者標目: International Conference on Wavelet Analysis and Pattern Recognition (2010 : Qingdao, China)
• 出版事項: Piscataway : IEEE
• 出版年月日等: c2010.
• 出版年（W3CDTF）: 2010
• 数量: 430 p.
• 形態の詳細: ill.
• 大きさ: 27 cm.
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: Wavelets (Mathematics)--Congresses.; Wavelengths--Data processing--Congresses.; Pattern perception--Congresses.; Imaging systems--Congresses.
• LCC: QA403.3
• NDLC: M17
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: Papers.; "ICWAPR2010 is the eighth of the series of international conferences on (...)" -- greetings from the general chairs.; IEEE cat no CFP1019C-PRT.
• 書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
• 一次資料へのリンクURL: IEEE Xplore; http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?punumber=5564178
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-12-843
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000011274329; http://id.ndl.go.jp/bib/000011274329
• OCLC番号: 712600155; https://www.worldcat.org/oclc/712600155
• 目録規則: 英米目録規則
• 整理区分コード: 215