2011 IEEE international conference on microelectronic test structures : (ICMTS 2011) : Amsterdam, Netherlands : 4-7 April 2011 : Apr 2011, Amsterdam, the Netherlands.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9781424485260
• ISSN: 10719032
• タイトル: 2011 IEEE international conference on microelectronic test structures : (ICMTS 2011) : Amsterdam, Netherlands : 4-7 April 2011 : Apr 2011, Amsterdam, the Netherlands.
• 著者標目: IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (2011 : Amsterdam, the Netherlands)
• 出版事項: Piscataway : IEEE
• 出版年月日等: c2011.
• 出版年（W3CDTF）: 2011
• 数量: 179 p.
• 形態の詳細: ill.
• 大きさ: 27 cm.
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: Integrated circuits--Testing--Congresses.; Semiconductors--Testing--Congresses.; Electronic apparatus and appliances--Testing--Congresses.
• LCC: TK7874
• NDLC: M17
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: An abstract and papers.; IEEE cat no CFP11MTS-PRT.
• 書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
• 一次資料へのリンクURL: IEEE Xplore; http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?punumber=5959845
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-12-1601
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000011311978; http://id.ndl.go.jp/bib/000011311978
• OCLC番号: 793803210; https://www.worldcat.org/oclc/793803210
• 目録規則: 英米目録規則
• 整理区分コード: 215