Kelvin probe force microscopy : measuring and compensating electrostatic forces (Springer series in surface sciences ; 48)

Kelvin probe force microscopy : measuring and compensating electrostatic forces

(Springer series in surface sciences ; 48)

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資料種別: 図書
ISBN: 9783642225659 (hbk.)
3642225659 (hbk.)
ISBN（エラーコード）: 9783642225666 (ebk.)
3642225667 (ebk.)
ISSN（シリーズ）: 0931-5195
タイトル: Kelvin probe force microscopy : measuring and compensating electrostatic forces
著者・編者: Sascha Sadewasser, Thilo Glatzel, editors.
シリーズタイトル: Springer series in surface sciences ; 48
タイトル標目: Springer series in surface sciences ; 48.
著者標目: Sadewasser, Sascha.
Glatzel, Thilo.
出版事項: Heidelberg : Springer
出版年月日等: c2012.
出版年（W3CDTF）: 2012
数量: xiv, 331 p.
形態の詳細: ill. (some col.)
大きさ: 24 cm.
出版地（国名コード）: DE
本文の言語コード: eng
件名標目: Atomic force microscopy.
Electrostatics--Measurement.
Kelvin-Sonde.
Kraftmikroskopie.
LCC: QH212.A78
DDC: 502.82
NDLC: RA64
対象利用者: 一般
書誌注記: Includes bibliographical references and index.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: RA64-B14
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 023572286
http://id.ndl.go.jp/bib/023572286
LC control number: 2011939753
https://lccn.loc.gov/2011939753
OCLC番号: 741541240
https://www.worldcat.org/oclc/741541240
整理区分コード: 211