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電子回路基板の品質・信頼性解析

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電子回路基板の品質・信頼性解析 = 电子电路板的品质、可靠性解析 = The defects and causes of electronic circuit boards

国立国会図書館請求記号
ND541-J29
国立国会図書館書誌ID
023854327
資料種別
図書
著者
長谷川堅一 著
出版者
日本電子回路工業会
出版年
2008.6
資料形態
ページ数・大きさ等
331p ; 30cm
NDC
547.36
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資料に関する注記

一般注記:

中文翻译: 吴耀辉 英訳: 小林正ほか

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目次

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  • 目次/目录/CONTENT

  • まえがき/前言/PREFACE/ 1

  • コード不良名 中文 English/ 頁

  • 1- 回路欠陥 线路缺陷 Conductor defects/ 1

  • 1-1- 断線 开路 Electrical open/ 1

書誌情報

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資料種別
図書
タイトルよみ
デンシ カイロ キバン ノ ヒンシツ ・ シンライセイ カイセキ
著者・編者
長谷川堅一 著
著者標目
長谷川, 堅一, 1936- ハセガワ, ケンイチ, 1936- ( 01087035 )典拠
出版年月日等
2008.6
出版年(W3CDTF)
2008
数量
331p
大きさ
30cm