ISTFA 2011 : conference proceedings from the 37th international symposium for testing and failure analysis : November 13-17, 2011 : San Jose Convention Center : San Jose, California, USA : ISTFA 2011 tutorial : Nov 2011, San Jose, CA.

ISTFA 2011 : conference proceedings from the 37th international symposium for testing and failure analysis : November 13-17, 2011 : San Jose Convention Center : San Jose, California, USA : ISTFA 2011 tutorial : Nov 2011, San Jose, CA.

国立国会図書館請求記号: M17-13-795
国立国会図書館書誌ID: 024025075

資料種別: 図書

著者: International Symposium for Testing and Failure Analysis (37th : 2011 : San Jose, Calif.)

出版者: ASM International

出版年: c2011.

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: xix, 456 p. ; 28 cm

NDC: -

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資料に関する注記

一般注記：: Papers.

形態の詳細：: ill.

付属資料：: 1 CD-ROM (4 3/4 in.).

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書誌情報

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紙

資料種別: 図書
ISBN: 9781615038268 (ISBN-13 : pbk.)
0615038264 (pbk.)
9781615038336 (CD-ROM)
タイトル: ISTFA 2011 : conference proceedings from the 37th international symposium for testing and failure analysis : November 13-17, 2011 : San Jose Convention Center : San Jose, California, USA : ISTFA 2011 tutorial : Nov 2011, San Jose, CA.
著者標目: International Symposium for Testing and Failure Analysis (37th : 2011 : San Jose, Calif.)
出版事項: Materials Park : ASM International
出版年月日等: c2011.
出版年（W3CDTF）: 2011
数量: xix, 456 p.
形態の詳細: ill.
大きさ: 28 cm
付属資料: 1 CD-ROM (4 3/4 in.).
その他のタイトル: ISTFA/2011.
出版地（国名コード）: US
本文の言語コード: eng
件名標目: Electronics--Materials--Testing--Congresses.
Electronic apparatus and appliances--Testing--Congresses.
LCC: TK7801
NDLC: M17
対象利用者: 一般
一般注記: Papers.
書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-13-795
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 024025075
http://id.ndl.go.jp/bib/024025075
LC control number: 2011277287
https://lccn.loc.gov/2011277287
OCLC番号: 769470020
https://www.worldcat.org/oclc/769470020
目録規則: 英米目録規則
整理区分コード: 215