Advances in metrology for x-ray and EUV optics 4 : 12 August 2012 : San Diego, California, United States : Aug 2012, San Diego, CA.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9780819492180 (pbk.)
• ISSN（シリーズ）: 0277786X
• ISSN（エラーコード）: 0277786786X
• タイトル: Advances in metrology for x-ray and EUV optics 4 : 12 August 2012 : San Diego, California, United States : Aug 2012, San Diego, CA.
• シリーズタイトル: SPIE Proceedings ; 8501
• タイトル標目: Proceedings of SPIE -- the International Society for Optical Engineering ; v. 8501.
• 著者標目: Assoufid, Lahsen.; Takacs, Peter Z.; Asundi, Anand.
• 出版事項: Bellingham : SPIE
• 出版年月日等: c2012.
• 出版年（W3CDTF）: 2012
• 数量: 1 v. (various pagings)
• 形態の詳細: ill.
• 大きさ: 28 cm.
• その他のタイトル: SPIE optics + photonics.
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: Optical measurements--Congresses.; Optical instruments--Design and construction--Congresses.; Measuring instruments--Design and construction--Congresses.; Laser interferometers--Congresses.; Measurement--Congresses.
• NDLC: M17
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: Papers.
• 書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-13-1006
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 024061269; http://id.ndl.go.jp/bib/024061269
• LC control number: 2012538645; https://lccn.loc.gov/2012538645
• 目録規則: 英米目録規則
• 整理区分コード: 215