2012 IEEE international test conference : (ITC 2012) : Anaheim, California, USA : 5-8 November 2012 : ITC's lecture : Nov 2012, Anaheim, CA.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9781467315944 (print)
• ISSN: 10893539
• タイトル: 2012 IEEE international test conference : (ITC 2012) : Anaheim, California, USA : 5-8 November 2012 : ITC's lecture : Nov 2012, Anaheim, CA.
• 著者標目: International Test Conference (43rd : 2012 : Anaheim, California)
• 出版事項: Piscataway : IEEE
• 出版年月日等: c2012.
• 出版年（W3CDTF）: 2012
• 数量: 581 p.
• 形態の詳細: ill.
• 大きさ: 28 cm.
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: Computer software--Testing--Congresses.; Semiconductors--Testing--Congresses.; Radio frequency--Congresses.; Telecommunication--Congresses.; Electronic digital computers--Circuits--Testing--Congresses.; Integrated circuits--Testing--Congresses.
• LCC: TK7895.M4
• NDLC: M17
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: Abstracts and papers.; "We are pleased to (...) for the 43rd conference." -- welcome message.; IEEE cat no CFP12ITC-PRT.
• 書誌注記: Includes bibliographic references.
• リポート番号: CFP12ITC-ART
• 一次資料へのリンクURL: http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?punumber=6387511
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-13-2704
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 024402958; http://id.ndl.go.jp/bib/024402958
• OCLC番号: 835864693; https://www.worldcat.org/oclc/835864693
• 目録規則: 英米目録規則
• 整理区分コード: 215