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Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis Second completely revised and updated edition. (Springer series in optical sciences ; volume 45)

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Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis

Second completely revised and updated edition.

(Springer series in optical sciences ; volume 45)

国立国会図書館請求記号
ND448-B14
国立国会図書館書誌ID
024625563
資料種別
図書
著者
Ludwig Reimer.
出版者
Springer
出版年
[1998]
資料形態
ページ数・大きさ等
xiv, 527 pages ; 24 cm.
NDC
-
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書誌情報

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資料種別
図書
ISBN
3540639764 (hardcover ; alk. paper)
ISSN(シリーズ)
0342-4111
著者・編者
Ludwig Reimer.
Second completely revised and updated edition.
出版事項
出版年月日等
[1998]