2013 20th IEEE international symposium on the physical and failure analysis of integrated circuits : (IPFA 2013) : Suzhou, China : 15-19 July 2013 : IPFA2013 : Jul 2013, Suzhou, China.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9781479904792
• ISSN: 19461542
• タイトル: 2013 20th IEEE international symposium on the physical and failure analysis of integrated circuits : (IPFA 2013) : Suzhou, China : 15-19 July 2013 : IPFA2013 : Jul 2013, Suzhou, China.
• 著者標目: International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits (20th : 2013 : Suzhou, China); Wang, Mingxiang.; Suzhou da xue.
• 出版事項: Piscataway : IEEE
• 出版年月日等: c2013.
• 出版年（W3CDTF）: 2013
• 数量: 773 p.
• 形態の詳細: ill.
• 大きさ: 28 cm.
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: Integrated circuits--Reliability--Congresses.; Integrated circuits--Testing--Congresses.; Semiconductors--Failures--Congresses.; Integrated circuits--Defects--Congresses.
• LCC: TK7874
• NDLC: M17
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: Abstracts and papers.; Described as "(...) presented during the following 3 days technical symposium." -- welcome message.; IEEE cat no CFP13777-POD.
• 書誌注記: Includes bibliographic references and author index.
• リポート番号: CFP13777-PRT
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-14-1212
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 025055356; http://id.ndl.go.jp/bib/025055356
• 目録規則: 英米目録規則
• 整理区分コード: 215