18th microscopy of semiconducting materials conference 2013 : (MSM XVIII) : Oxford, United Kingdom : 7-11 April 2013 : Apr 2013, Oxford, UK.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9781629934495
• ISSN（シリーズ）: 1742-6588
• タイトル: 18th microscopy of semiconducting materials conference 2013 : (MSM XVIII) : Oxford, United Kingdom : 7-11 April 2013 : Apr 2013, Oxford, UK.
• シリーズタイトル: Journal of Physics: Conference Series ; 471
• タイトル標目: Journal of physics. Conference series (Online) ; v. 471.
• 著者標目: Conference on Microscopy of Semiconducting Materials (18th : 2013 : Oxford, UK); Walther, T. (Thomas); Hutchinson, John. L., Dr.
• 出版事項: Bristol, UK : Institute of Physics (出版)
• 出版年月日等: [2013]
• 出版年（W3CDTF）: 2013
• 数量: 246 pages
• 形態の詳細: illustrations
• 大きさ: 27 cm.
• 並列タイトル等: 18th microscopy of semiconducting materials conference 2013 : (MSM 18) : Oxford, United Kingdom : 7-11 April 2013
• 出版地（国名コード）: GB
• 本文の言語コード: eng
• ジャンル・形式用語: Conference proceedings.
• 表現種別: text
• 機器種別: unmediated
• キャリア種別: volume
• 件名標目: Semiconductors--Congresses.; Microscopy--Congresses.; Materials--Microscopy--Congresses.; Electron microscopy--Congresses.; Epitaxy--Congresses.; High resolution electron microscopy--Congresses.; Electron microscopy.; Epitaxy.; High resolution electron microscopy.; Materials--Microscopy.; Microscopy.; Semiconductors.
• NDLC: M17
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: Papers.
• 書誌注記: Includes bibliographical references.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-14-2416
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 025401909; http://id.ndl.go.jp/bib/025401909
• 目録規則: RDA
• 整理区分コード: 215