Microelectronic test structures for CMOS technology

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9781441993762
• タイトル: Microelectronic test structures for CMOS technology
• 著者・編者: Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen.
• 著者標目: Bhushan, Manjul.; Ketchen, Mark B.
• 出版事項: New York : Springer (出版)
• 出版年月日等: [2011]
• 出版年（W3CDTF）: 2011
• 数量: xxxiv, 373 pages
• 形態の詳細: illustrations
• 大きさ: 24 cm
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 表現種別: text
• 機器種別: unmediated
• キャリア種別: volume
• 件名標目: Metal oxide semiconductors, Complementary--Testing.
• LCC: TK7871.99.M44
• NDLC: ND371
• 対象利用者: 一般
• 書誌注記: Includes bibliographical references and index.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: ND371-B85
• 関連情報: Publisher description; http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy1316/2011934043-d.html
• 別の記録形式: Table of contents only; http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy1316/2011934043-t.html
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 025489881; http://id.ndl.go.jp/bib/025489881
• LC control number: 2011934043; https://lccn.loc.gov/2011934043
• 目録規則: RDA
• 整理区分コード: 211