日本信頼性学会秋季信頼性シンポジウム発表報文集 = Proceedings of Autumn Symposium on Reliability

• 資料種別: 雑誌
• タイトル: 日本信頼性学会秋季信頼性シンポジウム発表報文集
• タイトルよみ: ニホン シンライセイ ガッカイ シュウキ シンライセイ シンポジウム ハッピョウ ホウブンシュウ
• 巻次・部編番号: 29巻 2016年11月24日
• 著者標目: 日本信頼性学会 ニホン シンライセイ ガッカイ ( 00545947 )典拠
• 出版事項: 東京 : 日本信頼性学会
• 出版年月日等: 2016
• 出版年（W3CDTF）: 2016
• 刊行巻次・年月次: [ ]-第33回 (2020年11月6日)
• 大きさ: 30cm
• 並列タイトル等: Proceedings of Autumn Symposium on Reliability Proceedings of Autumn Symposium on Reliability; Proceedings of Autumn Symposium on Reliability; Proceedings of Autumnal Reliability Symposium; 秋季信頼性シンポジウム発表報文集 シュウキ シンライセイ シンポジウム ハッピョウ ホウブンシュウ
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn; eng
• 表現種別: テキスト
• 機器種別: 機器不用
• キャリア種別: 冊子
• NDLC: ZM1
• 一般注記: 記述は27回による; 23回までの並列タイトル: Proceedings of Autumnal Reliability Symposium
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z74-J488
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 026098628; http://id.ndl.go.jp/bib/026098628
• 全国書誌番号: 01039332
• 目録規則: 日本目録規則1987年版改訂版
• 整理区分コード: 131

目次

導電性高分子の光劣化に対する信頼性の検討

NANDフラッシュメモリの外挿による短期評価手法

HALT試験における振動ストレス効果の検討

信頼性技術者が抱える問題と解決のための活動

電子機器・電子部品の不再現現象(3)