In-situ characterization of material synthesis and properties at the nanoscale with TEM : April 21-25, 2014 : San Francisco, California, USA : Apr 2014, San Francisco, CA.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 1510805699; 9781510805699
• タイトル: In-situ characterization of material synthesis and properties at the nanoscale with TEM : April 21-25, 2014 : San Francisco, California, USA : Apr 2014, San Francisco, CA.
• シリーズタイトル: Materials Research Society Symposia Proceedings ; 1713
• タイトル標目: Materials Research Society symposia proceedings ; v. 1713.
• 著者標目: Chi, M.; Materials Research Society. Spring Meeting (2014 : San Francisco, Calif.)
• 出版事項: New York, NY, USA : Cambridge University Press (出版); Warrendale, PA : Materials Research Society (出版)
• 出版年月日等: [2014]
• 出版年（W3CDTF）: 2014
• 数量: 6 pages
• 形態の詳細: illustrations
• 大きさ: 24 cm.
• 並列タイトル等: 2014 MRS spring meeting
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 表現種別: txt : text
• 機器種別: n : unmediated
• キャリア種別: nc : volume
• 件名標目: Nanowires--Defects--Testing.; Electron microscopy.; High-voltage electron microscopes.; Silicon--Defects--Testing.
• NDLC: M17
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: A paper.
• 書誌注記: Includes bibliographical references.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-15-2910
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 026602425; http://id.ndl.go.jp/bib/026602425
• OCLC番号: 914195902; https://www.worldcat.org/oclc/914195902
• 目録規則: RDA
• 整理区分コード: 215