Integrated imaging and vision techniques for industrial inspection : advances and applications

• 資料種別: 図書
• ISBN: 1447167406; 9781447167402
• ISSN（シリーズ）: 2191-6586
• タイトル: Integrated imaging and vision techniques for industrial inspection : advances and applications
• 著者・編者: Zheng Liu, Hiroyuki Ukida, Pradeep Ramuhalli, Kurt Niel, editors.
• シリーズタイトル: Advances in computer vision and pattern recognition
• タイトル標目: Advances in computer vision and pattern recognition.
• 著者標目: Liu, Zheng (Associate professor); Ukida, Hiroyuki. [浮田浩行]
• 出版事項: London : Springer (出版)
• 出版年月日等: [2015]
• 出版年（W3CDTF）: 2015
• 数量: x, 541 pages
• 形態の詳細: illustrations (some color)
• 大きさ: 25 cm.
• 出版地（国名コード）: GB
• 本文の言語コード: eng
• 表現種別: text
• 機器種別: unmediated
• キャリア種別: volume
• 件名標目: Computer vision--Industrial applications.; Engineering inspection.
• LCC: TS156.2
• DDC: 670.4/25
• NDLC: M291
• 対象利用者: 一般
• 書誌注記: Includes bibliographical references and index.
• コレクション（個別）: 日本関係外国語図書
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M291-B7
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 026637925; http://id.ndl.go.jp/bib/026637925
• OCLC番号: 911363361; https://www.worldcat.org/oclc/911363361
• 目録規則: RDA
• 整理区分コード: 211