Videometrics, range imaging, and applications XIII : 22-23 June 2015 : Munich, Germany : SPIE Europe conference on optical metrology : Jun 2015, Munich, Germany. (SPIE Proceedings ; 9528)
資料に関する注記
一般注記:
形態の詳細:
この資料の詳細や典拠(同じ主題の資料を指すキーワード、著者名)等を確認できます。