図書

Optical measurement systems for industrial inspection IX : 22-25 June 2015 : Munich, Germany : Munich conference : Jun 2015, Munich, Germany. (SPIE Proceedings ; 9525)

図書を表すアイコン

Optical measurement systems for industrial inspection IX : 22-25 June 2015 : Munich, Germany : Munich conference : Jun 2015, Munich, Germany.

(SPIE Proceedings ; 9525)

国立国会図書館請求記号
M17-16-68
国立国会図書館書誌ID
026792291
資料種別
図書
著者
Lehmann, Peter.ほか
出版者
SPIE
出版年
[2015]
資料形態
ページ数・大きさ等
2 volumes ; 28 cm.
NDC
-
すべて見る

資料に関する注記

一般注記:

Papers.

形態の詳細:

illustrations

書店で探す

書誌情報

この資料の詳細や典拠(同じ主題の資料を指すキーワード、著者名)等を確認できます。

資料種別
図書
ISBN(セット)
9781628416855 (set)
ISSN(シリーズ)
0277-786X
シリーズタイトル
出版年月日等
[2015]
出版年(W3CDTF)
2015