国立国会図書館サーチ(NDL SEARCH)
2015 IEEE applied imagery pattern recognition workshop : (AIPR 2015) : Washington, DC, USA : 13-15 October 2015.
資料に関する注記
一般注記:
形態の詳細:
この資料の詳細や典拠(同じ主題の資料を指すキーワード、著者名)等を確認できます。