Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9781118479292 (cloth : alk. paper)
• タイトル: Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems
• 著者・編者: Eishi H. Ibe.
• 著者標目: Ibe, Eishi. [伊部英史]
• 出版事項: Singapore : John Wiley & Sons Singapore Pte. Ltd. (出版)
• 出版年月日等: 2015.
• 出版年（W3CDTF）: 2015
• 数量: xxiv, 268 pages
• 形態の詳細: illustrations
• 大きさ: 26 cm
• 出版地（国名コード）: SG
• 本文の言語コード: eng
• 表現種別: text
• 機器種別: unmediated
• キャリア種別: volume
• 件名標目: Electronic circuits--Effect of radiation on.; Integrated circuits--Ultra large scale integration--Reliability.; Integrated circuits--Effect of radiation on.
• LCC: TK7870.285
• DDC: 621.3815
• NDLC: ND386
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: "IEEE Press"--Cover.
• 書誌注記: Includes bibliographical references and index.
• コレクション（個別）: 日本関係外国語図書
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: ND386-B34
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 027595731; http://id.ndl.go.jp/bib/027595731
• LC control number: 2014022262; https://lccn.loc.gov/2014022262
• 目録規則: RDA
• 整理区分コード: 211