2015 IEEE metrology for aerospace : (MetroAeroSpace 2015) : Benevento, Italy : 4-5 June 2015 : 2nd IEEE international workshop on metrology for aerospace : Jun 2015, Benevento, Italy.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9781479975709; 9781479975693
• タイトル: 2015 IEEE metrology for aerospace : (MetroAeroSpace 2015) : Benevento, Italy : 4-5 June 2015 : 2nd IEEE international workshop on metrology for aerospace : Jun 2015, Benevento, Italy.
• 著者標目: IEEE International Workshop on Metrology for Aerospace (2nd : 2015 : Benevento, Italy); Institute of Electrical and Electronics Engineers.
• 出版事項: Piscataway, NJ : IEEE (出版)
• 出版年月日等: [2015]; 著作権日付 : ©2015
• 出版年（W3CDTF）: 2015
• 数量: 601 pages
• 形態の詳細: illustrations
• 大きさ: 28 cm
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• ジャンル・形式用語: Conference papers and proceedings.
• 表現種別: text
• 機器種別: unmediated
• キャリア種別: volume
• 件名標目: Aeronautics--Congresses.; Metrology--Congresses.; Aeronautics.; Metrology.
• LCC: TL505
• NDLC: M17
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: Papers.; Described as "2nd IEEE International Workshop on Metrology for Aerospace : Proceedings : Benevento, Italy | June 3-5, 2015"--Added title page.; IEEE catalog number CFP1532W-POD, CFP1532W-ART(Added title page).
• 書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-17-1364
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 027652525; http://id.ndl.go.jp/bib/027652525
• 目録規則: RDA
• 整理区分コード: 215