2016 IEEE Far East NDT new technology & application forum (FENDT 2016) : Nanchang, China : 22-24 June 2016 : 2016 IEEE Far East forum on nondestructive evaluation/testing: new technology & application : Jun 2016, Nanchang, China.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9781509026654 (Print-On-Demand)
• タイトル: 2016 IEEE Far East NDT new technology & application forum (FENDT 2016) : Nanchang, China : 22-24 June 2016 : 2016 IEEE Far East forum on nondestructive evaluation/testing: new technology & application : Jun 2016, Nanchang, China.
• 著者標目: Far East Forum on Nondestructive Evaluation/Testing (13th : 2016 : Nanchang Shi, China); Xu, Chunguang, 1964-
• 出版事項: Piscataway, NJ : IEEE (出版)
• 出版年月日等: [2016]; 著作権日付 : ©2016
• 出版年（W3CDTF）: 2016
• 数量: 243 pages
• 形態の詳細: illustrations
• 大きさ: 28 cm
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• ジャンル・形式用語: Conference papers and proceedings.
• 表現種別: text
• 機器種別: unmediated
• キャリア種別: volume
• 件名標目: Nondestructive testing--Technological innovations--Congresses.
• LCC: TA417.2
• NDLC: M17
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: Papers and abstracts.; IEEE catalog number CFP1610U-POD.
• 書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-19-337
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 028605481; http://id.ndl.go.jp/bib/028605481
• 目録規則: RDA
• 整理区分コード: 215