34th European mask and lithography conference : 18-20 June 2018 : Grenoble, France : EMLC2018 : EMLC 2018 : Jun 2018, Grenoble, France. (SPIE Proceedings ; 10775)

34th European mask and lithography conference : 18-20 June 2018 : Grenoble, France : EMLC2018 : EMLC 2018 : Jun 2018, Grenoble, France.

(SPIE Proceedings ; 10775)

国立国会図書館請求記号: M17-20-131
国立国会図書館書誌ID: 029330392

資料種別: 図書

著者: VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik, Mikrosystem- und Feinwerktechnik.

出版者: SPIE

出版年: [2018]

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: 1 volume (various pagings) ; 28 cm.

NDC: -

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資料に関する注記

一般注記：: Papers."The conference has annually brought together ..."--Foreword."We hope that you enjoyed the tutorials and technical session of the EMLC2018 ..."...

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書誌情報

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紙

資料種別: 図書
ISBN: 9781510621213
ISSN（シリーズ）: 0277-786X
タイトル: 34th European mask and lithography conference : 18-20 June 2018 : Grenoble, France : EMLC2018 : EMLC 2018 : Jun 2018, Grenoble, France.
シリーズタイトル: SPIE Proceedings ; 10775
著者標目: VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik, Mikrosystem- und Feinwerktechnik.
出版事項: Bellingham, Washington, USA : SPIE (出版)
出版年月日等: [2018]
出版年（W3CDTF）: 2018
数量: 1 volume (various pagings)
大きさ: 28 cm.
出版地（国名コード）: US
本文の言語コード: eng
表現種別: text
機器種別: unmediated
キャリア種別: volume
NDLC: M17
対象利用者: 一般
一般注記: Papers.
"The conference has annually brought together ..."--Foreword.
"We hope that you enjoyed the tutorials and technical session of the EMLC2018 ..."--Foreword.
書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-20-131
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 029330392
http://id.ndl.go.jp/bib/029330392
目録規則: RDA
整理区分コード: 215