Ellipsometry of functional organic surfaces and films

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9783319758947; 3319758942
• ISSN（シリーズ）: 0931-5195
• タイトル: Ellipsometry of functional organic surfaces and films
• 著者・編者: Karsten Hinrichs, Klaus-Jochen Eichhorn, editors.
• 版: Second edition.
• シリーズタイトル: Springer series in surface sciences ; volume 52
• タイトル標目: Springer series in surface sciences ; 52.
• 著者標目: Hinrichs, Karsten.; Eichhorn, Klaus-Jochen.
• 出版事項: Cham, Switzerland : Springer (出版)
• 出版年月日等: [2018]; 著作権日付 : ©2018
• 出版年（W3CDTF）: 2018
• 数量: xxvi, 547 pages
• 形態の詳細: illustrations (some color)
• 大きさ: 25 cm.
• 出版地（国名コード）: CH
• 本文の言語コード: eng
• 表現種別: text
• 機器種別: unmediated
• キャリア種別: volume
• 件名標目: Ellipsometry.; Surfaces (Technology)
• LCC: QC176.8.S8
• NDLC: MC141
• 対象利用者: 一般
• 書誌注記: Includes bibliographical references and index.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: MC141-B163
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 029805667; http://id.ndl.go.jp/bib/029805667
• LC control number: 2018932173; https://lccn.loc.gov/2018932173
• OCLC番号: 1048356286; https://www.worldcat.org/oclc/1048356286
• 目録規則: RDA
• 整理区分コード: 211

• 内容細目: IndtroductionEllipsometry: A survey of ConceptBiomolecules at surfaces...
• 要約等: This new edition provides a state-of-the-art survey of ellipsometric methods used to study organic films and surfaces, from laboratory to synchrotron ...