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目次
第1章 リファレンスフリー蛍光X線分析の基礎 1.1 元素分析がもたらす社会のイノベーション 1.2 蛍光X線分析法は「元素を色分けして識別する」方法である 1.3 濃度や量の求め方 1.4 リファレンスフリー蛍光X線分析とは 1.5 リファレンスフリー蛍光X線分析の発展 第2章 リファレンスフリー蛍光X線分析の適用事例 2.1 電気・電子製品の環境規制対応分析 2.2 バリアメタル薄膜の軽元素分析 2.3 軽金属の分析 2.4 ソフトマテリアルの分析 2.5 医薬品および食品の分析 2.6 潤滑油の分析 2.7 セメントの分析 2.8 コーティング膜厚分析 2.9 セラミックス・鉱物分析 2.10 食品異物分析 第3章 リファレンスフリー蛍光X線分析の注意事項・事例 3.1 高い信頼性を得るための注意事項 3.2 コーティングアプリケーションにおける注意事項 3.3 微小部分析における注意事項 3.4 物理定数の不確かさなどの影響に関する注意事項 3.5 種々の不確かさの要因について 第4章 いっそう高い信頼性のリファレンスフリー蛍光X線分析をめざして 4.1 信頼性ツールとしての認証標準物質 4.2 ラウンドロビンテストの経験 4.3 異常な結果が得られたときは,どうすればよいか 4.4 リファレンスフリー蛍光X線分析の近未来 付録 リファレンスフリー蛍光X線分析の情報源 A. 物理定数 B. 認証標準物質 C. 認証標準物質のデータベース D. 理論強度式に関する重要文献(オリジナル論文) E. ソフトウエア F. メーリングリスト G. 書籍 H. 用語集
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山形県立図書館
紙- 請求記号:
- 433.57-サク
- 図書登録番号:
- 109165942
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紙- 請求記号:
- 433.5/サク/
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- 433.57-リフ
- 図書登録番号:
- 103292405
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- 43357/ 38/
- 図書登録番号:
- 1102548130
東京都立中央図書館
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- 433.5-5051-2019
- 図書登録番号:
- 7112308101
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書誌情報
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- 資料種別
- 図書
- ISBN
- 978-4-06-513598-3
- タイトルよみ
- リファレンスフリー ケイコウ エックスセン ブンセキ ニュウモン
- 著者・編者
- 桜井健次 編著
- 出版事項
- 出版年月日等
- 2019.11
- 出版年(W3CDTF)
- 2019
- 数量
- 245p
- 大きさ
- 21cm
- 並列タイトル等
- Introduction to Reference-free X-ray Fluorescence Analysis
- 出版地(国名コード)
- JP
- 本文の言語コード
- jpn
- NDC10版
- NDLC
- 対象利用者
- 一般
- 書誌注記
- 文献あり 索引あり
- 入手条件・定価
- 5500円
- 所蔵機関
- 国立国会図書館
- 請求記号
- PA124-M5
- 連携機関・データベース
- 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
- 書誌ID(NDLBibID)
- 030039855
- 全国書誌番号
- 23300645
- トーハンMARC番号
- 33994714
- 目録規則
- 日本目録規則1987年版改訂版
- 整理区分コード
- 111
- 要約等
- 検量線を用いない(=リファレンスフリー)での蛍光X線分析に関する専門書。国内の機器メーカーの協力を得て測定例を多数紹介。
- コレクション(個別)
- リポジトリ収録資料
- 一般注記(コンテンツ)
- 電子書籍
- 製作者
- 講談社
- 製作年
- 2020-02-28
- 記録形式
- EPUBフィックス
- 連携機関・データベース
- 出版情報登録センター : 出版情報登録センター(JPRO)
- JP-eコード
- 06A0000000000195753M