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リファレンスフリー蛍光X線分析入門

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リファレンスフリー蛍光X線分析入門 = Introduction to Reference-free X-ray Fluorescence Analysis

国立国会図書館請求記号
PA124-M5
国立国会図書館書誌ID
030039855
資料種別
図書
著者
桜井健次 編著
出版者
講談社
出版年
2019.11
資料形態
ページ数・大きさ等
245p ; 21cm
NDC
433.57
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資料詳細

要約等:

検量線を用いない(=リファレンスフリー)での蛍光X線分析に関する専門書。国内の機器メーカーの協力を得て測定例を多数紹介。(提供元: 出版情報登録センター(JPRO))

著者紹介:

桜井 健次 物質・材料研究機構 先端材料解析研究拠点 上席研究員(提供元: 出版情報登録センター(JPRO))

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目次

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  • 第1章 リファレンスフリー蛍光X線分析の基礎 1.1 元素分析がもたらす社会のイノベーション 1.2 蛍光X線分析法は「元素を色分けして識別する」方法である 1.3 濃度や量の求め方 1.4 リファレンスフリー蛍光X線分析とは 1.5 リファレンスフリー蛍光X線分析の発展 第2章 リファレンスフリー蛍光X線分析の適用事例 2.1 電気・電子製品の環境規制対応分析 2.2 バリアメタル薄膜の軽元素分析 2.3 軽金属の分析 2.4 ソフトマテリアルの分析 2.5 医薬品および食品の分析 2.6 潤滑油の分析 2.7 セメントの分析 2.8 コーティング膜厚分析 2.9 セラミックス・鉱物分析 2.10 食品異物分析 第3章 リファレンスフリー蛍光X線分析の注意事項・事例 3.1 高い信頼性を得るための注意事項 3.2 コーティングアプリケーションにおける注意事項 3.3 微小部分析における注意事項 3.4 物理定数の不確かさなどの影響に関する注意事項 3.5 種々の不確かさの要因について 第4章 いっそう高い信頼性のリファレンスフリー蛍光X線分析をめざして 4.1 信頼性ツールとしての認証標準物質 4.2 ラウンドロビンテストの経験 4.3 異常な結果が得られたときは,どうすればよいか 4.4 リファレンスフリー蛍光X線分析の近未来 付録 リファレンスフリー蛍光X線分析の情報源 A. 物理定数 B. 認証標準物質 C. 認証標準物質のデータベース D. 理論強度式に関する重要文献(オリジナル論文) E. ソフトウエア F. メーリングリスト G. 書籍 H. 用語集

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書誌情報

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資料種別
図書
ISBN
978-4-06-513598-3
タイトルよみ
リファレンスフリー ケイコウ エックスセン ブンセキ ニュウモン
著者・編者
桜井健次 編著
著者標目
桜井, 健次 サクライ, ケンジ ( 00976500 )典拠
出版事項
出版年月日等
2019.11
出版年(W3CDTF)
2019
数量
245p
大きさ
21cm
並列タイトル等
Introduction to Reference-free X-ray Fluorescence Analysis
出版地(国名コード)
JP
本文の言語コード
jpn
件名標目
エックス線分光分析 エックスセンブンコウブンセキ ( 00561907 )典拠
NDLC
対象利用者
一般
書誌注記
文献あり 索引あり
入手条件・定価
5500円
所蔵機関
国立国会図書館
請求記号
PA124-M5
連携機関・データベース
国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
書誌ID(NDLBibID)
030039855
全国書誌番号
23300645
トーハンMARC番号
33994714
目録規則
日本目録規則1987年版改訂版
整理区分コード
111

デジタル

要約等
検量線を用いない(=リファレンスフリー)での蛍光X線分析に関する専門書。国内の機器メーカーの協力を得て測定例を多数紹介。
コレクション(個別)
リポジトリ収録資料
一般注記(コンテンツ)
電子書籍
製作者
講談社
製作年
2020-02-28
記録形式
EPUB
フィックス
連携機関・データベース
出版情報登録センター : 出版情報登録センター(JPRO)
JP-eコード
06A0000000000195753M