世界半導体製造装置・試験/検査装置市場年鑑 = Semiconductor equipment test/inspection worldwide annual. 2015

• 資料種別: 図書
• ISBN: 978-4-907847-55-5
• ISBN（エラーコード）: 978-4-907847-56-2 (付属資料)
• タイトル: 世界半導体製造装置・試験/検査装置市場年鑑
• タイトルよみ: セカイ ハンドウタイ セイゾウ ソウチ ・ シケン / ケンサ ソウチ シジョウ ネンカン
• 巻次・部編番号: 2015
• シリーズタイトル: LSI database
• 出版事項: 東京 : グローバルネット (出版)
• 出版年月日等: 2015.3
• 出版年（W3CDTF）: 2015
• 数量: 993 p
• 大きさ: 28 cm
• 付属資料: CD-ROM 1枚 (12 cm)
• 並列タイトル等: Semiconductor equipment test/inspection worldwide annual Semiconductor equipment test / inspection worldwide annual; Semiconductor equipment test/inspection worldwide annual
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 表現種別: テキスト; 不明
• 機器種別: 機器不用; コンピュータ
• キャリア種別: 冊子; コンピュータ・ディスク
• 件名標目: 半導体製造装置製造業 ハンドウタイ セイゾウ ソウチ セイゾウギョウ ( 001237270 )典拠
• NDC10版: 549.8093 : 電子工学
• NDLC: YU7; DL475
• 対象利用者: 一般
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: YU7-M1569
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 030464444; http://id.ndl.go.jp/bib/030464444
• 全国書誌番号: 23835645
• 目録規則: 日本目録規則2018年版
• 整理区分コード: 111