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世界半導体製造装置・試験/検査装置市場年鑑 2016 (LSI database)

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世界半導体製造装置・試験/検査装置市場年鑑 = Semiconductor equipment test/inspection worldwide annual. 2016

(LSI database)

国立国会図書館請求記号
YU9-M378
国立国会図書館書誌ID
030464465
資料種別
図書
著者
-
出版者
グローバルネット
出版年
2016.3
資料形態
ページ数・大きさ等
985 p ; 28 cm
NDC
549.8093
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資料に関する注記

付属資料:

DVD-ROM 1枚 (12 cm)

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書誌情報

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資料種別
図書
ISBN
978-4-907847-61-6
タイトルよみ
セカイ ハンドウタイ セイゾウ ソウチ ・ シケン / ケンサ ソウチ シジョウ ネンカン
巻次・部編番号
2016
シリーズタイトル
出版年月日等
2016.3
出版年(W3CDTF)
2016
数量
985 p