Advanced characterization of nanostructured materials : probing the structure and dynamics with synchrotron X-rays and neutrons

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9811231508; 9789811231506
• ISSN（シリーズ）: 2301-301X
• タイトル: Advanced characterization of nanostructured materials : probing the structure and dynamics with synchrotron X-rays and neutrons
• 著者・編者: editors, Sunil K. Sinha, Milan K. Sanyal, Chun K. Loong
• シリーズタイトル: World scientific series in nanoscience and nanotechnology ; volume 21
• タイトル標目: World Scientific series in nanoscience and nanotechnology ; v. 21. 2301-301X
• 著者標目: Sinha, Sunil K.; Sanyal, Milan K.; Loong, Chun-Keung, 1950-
• 出版事項: Singapore : World Scientific (出版); New Jersey : World Scientific (出版)
• 出版年月日等: [2021]
• 出版年（W3CDTF）: 2021
• 数量: xiv, 412 pages
• 形態の詳細: illustrations
• 大きさ: 24 cm
• 出版地（国名コード）: SG
• 本文の言語コード: eng
• 表現種別: text
• 機器種別: unmediated
• キャリア種別: volume
• 件名標目: Nanostructured materials
• LCC: TA418.9.N35
• NDLC: M213
• 対象利用者: 一般
• 書誌注記: Includes bibliographical references and index
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M213-D141
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 031249370; http://id.ndl.go.jp/bib/031249370
• OCLC番号: 1204143818; https://www.worldcat.org/oclc/1204143818
• 目録規則: RDA
• 整理区分コード: 211

• 内容細目: Neutron scattering techniques for the study of ordering in organic films / Jeffrey PenfoldGrazing incidence X-ray scattering techniques to study growt...
• 要約等: "Advanced Characterization of Nanostructured Materials -- Probing the Structure and Dynamics with Synchrotron X-Rays and Neutrons is a collection of c...