Characterization, testing, measurement, and metrology

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9780367275150 hardcover; 0367275155 hardcover; 9780429298073 electronic book
• タイトル: Characterization, testing, measurement, and metrology
• 著者・編者: edited by Chander Prakash, Sunpreet Singh, and J. Paulo Davim
• 版: First edition
• シリーズタイトル: Manufacturing design and technology series
• タイトル標目: Manufacturing design and technology series
• 著者標目: Prakash, Chander; Singh, Sunpreet, 1989-; Davim, J. Paulo
• 出版事項: Boca Raton, FL : CRC Press (出版)
• 出版年月日等: 2021
• 出版年（W3CDTF）: 2021
• 数量: xii, 192 pages
• 形態の詳細: illustrations
• 大きさ: 25 cm
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 表現種別: text
• 機器種別: unmediated
• キャリア種別: volume
• 件名標目: Materials--Testing; Materials--Testing.
• LCC: TA410
• DDC: 620.1/10287
• NDLC: M215
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: "Functional materials and advanced manufacturing"--Cover
• 書誌注記: Includes bibliographical references and index
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M215-D3
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 031540543; http://id.ndl.go.jp/bib/031540543
• LC control number: 2020018334; https://lccn.loc.gov/2020018334
• OCLC番号: 1151764959; https://www.worldcat.org/oclc/1151764959
• 目録規則: RDA
• 整理区分コード: 211

• 要約等: "This book presents the broad aspects of measurement, performance analysis, and characterization for materials and devices by advanced manufacturing p...