Optical measurement systems for industrial inspection XII : 21-25 June 2021 : online only, Germany : conference "optical metrology systems for industrial inspection" : biannual Munich SPIE symposium "optical metrology" : laser world of photonics congress : Jun 2021, ------.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9781510643987
• ISSN（シリーズ）: 0277-786X
• タイトル: Optical measurement systems for industrial inspection XII : 21-25 June 2021 : online only, Germany : conference "optical metrology systems for industrial inspection" : biannual Munich SPIE symposium "optical metrology" : laser world of photonics congress : Jun 2021, ------.
• シリーズタイトル: SPIE Proceedings ; 11782
• 著者標目: European Optical Society (EOS); Wissenschaftliche Gesellschaft Lasertechnik (WLT)
• 出版事項: Bellingham, Washington, USA : SPIE (出版)
• 出版年月日等: [2021]
• 出版年（W3CDTF）: 2021
• 数量: 1 volume (various pagings)
• 大きさ: 28 cm.
• 並列タイトル等: Optical measurement systems for industrial inspection 12 : 21-25 June 2021 : online only, Germany; Optical measurement systems for industrial inspection XII : at SPIE optical metrology : 21-25 June 2021 : online only, Germany
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 表現種別: text
• 機器種別: unmediated
• キャリア種別: volume
• NDLC: M17
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: Papers.; "This year's conference will be the twelfth in a still running series."--Page ix.
• 書誌注記: Includes bibliographical references.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-22-127
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 031623502; http://id.ndl.go.jp/bib/031623502
• 目録規則: RDA
• 整理区分コード: 215