ISTFA 2020 : papers planned for the 46th international symposium for testing and failure analysis : 2020, ------.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9781627083331 print
• タイトル: ISTFA 2020 : papers planned for the 46th international symposium for testing and failure analysis : 2020, ------.
• 著者標目: Electronic Device Failure Analysis Society.; ASM International.
• 出版事項: Materials Park, Ohio : ASM International (出版)
• 出版年月日等: [2020]
• 出版年（W3CDTF）: 2020
• 数量: xiv, 382 pages
• 大きさ: 28 cm
• 並列タイトル等: ISTFA 2020 : papers submitted for the planned 46th international symposium for testing and failure analysis
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 表現種別: text
• 機器種別: unmediated
• キャリア種別: volume
• NDLC: M17
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: Papers.
• 書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-22-500
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 031951998; http://id.ndl.go.jp/bib/031951998
• 目録規則: RDA
• 整理区分コード: 215