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Unequal by design : high-stakes testing and the standardization of inequality Second edition (Critical social thought series)

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Unequal by design : high-stakes testing and the standardization of inequality

Second edition

(Critical social thought series)

国立国会図書館請求記号
FC63-D5
国立国会図書館書誌ID
032054185
資料種別
図書
著者
Wayne Au
出版者
Routledge
出版年
2023
資料形態
ページ数・大きさ等
xiv, 145 pages ; 24 cm
NDC
-
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資料詳細

内容細目:

Enduring educational inequality in the United StatesTesting and the neoliberal educational enterpriseStandardized testing and the production of capita...

要約等:

"This new edition of Unequal By Design critically examines the deep and enduring problems within systems of education in the U.S., in order to illumin...

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書誌情報

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資料種別
図書
ISBN
9780367437046 hardcover
036743704X hardcover
9780367437039 paperback
0367437031 paperback
ISBN(エラーコード)
9781003005179 electronic book
9781000619836 electronic publication
9781000619522 electronic book
著者・編者
Wayne Au
Second edition
シリーズタイトル
タイトル標目