Analysis of truedepth device for Apple iPhone X = iPhone X 3Dスキャナ (顔認証) 関連部品解析

• 資料種別: 電子資料
• タイトル: Analysis of truedepth device for Apple iPhone X
• タイトルよみ: Analysis of truedepth device for Apple iPhone X
• 出版事項: 東京 : 中日社 (出版)
• 出版年月日等: 2017.12
• 出版年（W3CDTF）: 2017
• 数量: CD-ROM 1枚
• 大きさ: 12 cm
• 付属資料: シート 1枚
• 並列タイトル等: iPhone X 3Dスキャナ (顔認証) 関連部品解析 iPhone X 3Dスキャナ (カオ ニンショウ) カンレン ブヒン カイセキ
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: eng
• 表現種別: テキスト
• 機器種別: コンピュータ
• キャリア種別: コンピュータ・ディスク
• デジタル・ファイルの特性: ファイル種別 : 画像ファイル; デジタル・コンテンツ・フォーマット : PDF
• NDC10版: 547.464 : 通信工学．電気通信
• NDLC: YH245
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: ラベルの出版者: 中日社, セミコンサルト
• 入手条件・定価: 64000円
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: YH245-D108
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 032222964; http://id.ndl.go.jp/bib/032222964
• 全国書誌番号: 23741343
• 目録規則: 日本目録規則2018年版
• 整理区分コード: 141