規格・テクニカルリポート類

電子後方散乱回折(EBSD)法による材料評価のための結晶方位差測定標準 JSMS-SD-11-16:2016

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電子後方散乱回折(EBSD)法による材料評価のための結晶方位差測定標準

JSMS-SD-11-16:2016

国立国会図書館請求記号
M-JSMS-SD-11-16:2016
国立国会図書館書誌ID
032670118
資料種別
規格・テクニカルリポート類
著者
[日本材料学会(JSMS)]
出版者
-
出版年
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資料形態
ページ数・大きさ等
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NDC
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書誌情報

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資料種別
規格・テクニカルリポート類
ISBN
9784901381499
著者・編者
[日本材料学会(JSMS)]
対象利用者
一般
規格番号
JSMS-SD-11-16:2016
所蔵機関
国立国会図書館
請求記号
M-JSMS-SD-11-16:2016
連携機関・データベース
国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
書誌ID(NDLBibID)
032670118