電子後方散乱回折(EBSD)法による材料評価のための結晶方位差測定標準

• 資料種別: 規格・テクニカルリポート類
• ISBN: 9784901381499
• タイトル: 電子後方散乱回折(EBSD)法による材料評価のための結晶方位差測定標準
• 著者・編者: [日本材料学会(JSMS)]
• 対象利用者: 一般
• 規格番号: JSMS-SD-11-16:2016
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M-JSMS-SD-11-16:2016
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 032670118; http://id.ndl.go.jp/bib/032670118
• 整理区分コード: 291