X線光電子分光法

• 資料種別: 図書
• ISBN: 978-4-621-31214-8
• タイトル: X線光電子分光法
• タイトルよみ: エックスセン コウデンシ ブンコウホウ
• 著者・編者: 日本表面真空学会 編
• 版: 第2版
• シリーズタイトル: 表面分析技術選書
• 著者標目: 編者 ： 日本表面真空学会 ニホン ヒョウメン シンクウ ガッカイ ( 001293349 )典拠
• 出版事項: 東京 : 丸善出版 (出版)
• 出版年月日等: 2025.11
• 出版年（W3CDTF）: 2025
• 数量: 207p
• 大きさ: 21cm
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 表現種別: テキスト
• 機器種別: 機器不用
• キャリア種別: 冊子
• 件名標目: 電子分光法 デンシブンコウホウ ( 00561431 )典拠; エックス線分光分析 エックスセンブンコウブンセキ ( 00561907 )典拠
• NDC10版: 433.57 : 分析化学［化学分析］
• NDLC: PA128
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: 資料ダウンロード
• 書誌注記: 索引あり
• 原資料等に関する注記: 初版: 丸善 1998年刊
• 入手条件・定価: 3800円
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: PA128-R3
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 034419479; http://id.ndl.go.jp/bib/034419479
• 全国書誌番号: 24199998
• トーハンMARC番号: 34810098
• 目録規則: 日本目録規則2018年版
• 整理区分コード: 111

• 要約等: X線光電子分光法の基礎的な解説から、試料調製法・データ解析などの実践的内容、さらには放射光施設での発展的例まで解説。（提供元: 出版情報登録センター（JPRO））

目次

1　X線光電子分光法（XPS）とは何か/1.1　光電子分光の特徴/1.2　なぜXPSで表面を分析できるのか/1.3　なぜXPSで元素組成を分析できるのか/1.4　なぜXPSで化学状態を分析できるのか/1.5　XPSの歴史と最近の潮流/2　光電子発生の原理/2.1　励起光の入射/2.2　光吸収と励起/2.3　二次緩和過程/2.4　固体中の光電子の伝搬/2.5　真空への脱出と試料の帯電/3　XPS装置の原理と基礎/3.1　全体構成/3.2　試料ステージ/3.3　真空排気系/3.4　光電子分光用の光源/3.5　分析器および検出器/3.6　顕微分光の概要/4　測定法/4.1　試料調製法/4.2　測定の実際/4.3　その場測定・オペランド測定/5　データ解析/5.1　解析の基本/5.2　組成分析/5.3　深さ方向分析/5.4　電子状態分析/5.5　角度分解光電子分光の概要/5.6　大規模データ解析/6　応用・発展/6.1　雰囲気X線光電子分光/6.2　電気化学環境XPS/6.3　顕微・イメージングXPS ―走査型/6.4　顕微・イメージングXPS ―PEEM型/6.5　光電子運動量顕微鏡/6.6　価電子帯光電子分光/6.7　角度分解光電子分光 ―酸化物上に形成される2次元金属の決定/6.8　角度分解光電子分光 ―有機材料/6.9　時間分解光電子分光/6.10　二光子光電子分光/6.11　スピン分解光電子分光/6.12　光電子回折/6.13　光電子ホログラフィ・光電子回折/6.14　X線吸収分光とX線発光分光/おわりに：これからのXPS