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TOEIC L&Rテスト聞いて覚える頻出英語フレーズキクフレ

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TOEIC L&Rテスト聞いて覚える頻出英語フレーズキクフレ

国立国会図書館請求記号
Y45-R778
国立国会図書館書誌ID
034658497
資料種別
図書
著者
森田鉄也 監修ほか
出版者
アルク
出版年
2026.4
資料形態
ページ数・大きさ等
383p ; 19cm
NDC
830.79
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書誌情報

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資料種別
図書
ISBN
978-4-7574-4461-4
タイトルよみ
トーイック エル アンド アール テスト キイテ オボエル ヒンシュツ エイゴ フレーズ キクフレ
著者・編者
森田鉄也 監修
清田将吾 著
出版年月日等
2026.4
出版年(W3CDTF)
2026
数量
383p
大きさ
19cm
出版地(国名コード)
JP
本文の言語コード
jpn
表現種別
テキスト
機器種別
機器不用
キャリア種別
冊子
件名標目
NDLC
対象利用者
一般
一般注記
音声付 アプリ付
入手条件・定価
1800円
所蔵機関
国立国会図書館
請求記号
Y45-R778
連携機関・データベース
国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
書誌ID(NDLBibID)
034658497
全国書誌番号
24262115
トーハンMARC番号
34857784
目録規則
日本目録規則2018年版
整理区分コード
117